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表面阻抗分析仪产品及厂家
13385923448保真质保NIHONSPEED油泵K1P1RV11A安装简便
保真质保nihonspeed油泵k1p1rv11a安装简便顶路智能科技(厦门)有限公司销售经理:黄家明
更新时间:
2024-12-23
美国GD EIM 105-10Hz电阻抗计,Prep-Check电阻抗计
美国gd eim 105-10hz电阻抗计,prep-check电阻抗计,eim 105-10hz 是一款手持式电池供电设备,用于测量,应用于患者的生物电势电的电阻抗。 阻抗读数在 10 hz 下测量,无直流化电流,并呈现在大型液晶显示器,带有颜色编码“good”的辅助解释和“poor”灯。
更新时间:
2024-12-18
Loesta AX 低电阻率计
loesta ax 低电阻率计是一种手持仪器,测量具有一致精度样品的低电阻率。该电阻率计使用各种探头测量电阻率。loesta ax使用一个标准的rcf,如果已知的话,用户也可以输入其他rcf。它通常用于产品工程和质量控制。应用域包括导电涂料、导电塑料、导电橡胶、导电薄膜、抗静电材料、emi屏蔽材料、导电纤维、导电陶瓷等。
更新时间:
2024-12-17
DT307-Y(B)813沾水度测定仪 抗湿性沾水度测定仪 织物表面抗湿性测定仪
本仪器用于测定各种已经或未经抗水或拒水整理织物表面的抗湿性(沾水等级)。gb/t4745-1997 《纺织织物 表面抗湿性测定 沾水试验》
更新时间:
2024-12-13
DT304-353便携式交流阻抗测试仪 交流阻抗测试仪
dt304-353便携式阻抗测试仪具有易于携带、操作简便、测量迅速、显示结果直观等特点。供电采用直流供电,内置充电电池,用于现场无电源情况下使用,满电状态下可以连续测量10小时。
更新时间:
2024-12-13
DT304-385便携式电阻仪 表面电阻测试仪
便携式电阻仪 表面电阻测试仪该仪器为一台便携式电阻仪,规格为103 欧姆/米2 ~1012 欧姆/米2 ,精确度为±101/2。它主要用于测量表面电阻接地电阻。
更新时间:
2024-12-13
DT307-ZN28200干扰测量阻抗匹配器 干扰测量阻抗匹配仪 干扰测量阻抗匹分析仪
干扰测量阻抗匹配器 干扰测量阻抗匹配仪 干扰测量阻抗匹分析仪dt307-zn28200干扰测量阻抗匹配器专门用于高压电器设备无线电干扰测量,在进行测量试验时
更新时间:
2024-12-13
HG205-I型阻垢性能测试仪
每轮实验时间可缩短到6—8个小时,仅为静态法的1/4—1/3
更新时间:
2024-12-13
DT106-37阻抗测量仪器 高压电桥价格 电缆损耗测定仪厂家
测量电缆、固体、液体缘材料的电容值和介质损耗值。
更新时间:
2024-12-13
XF803-165防静电阻抗仪
该仪器为一台便携式电阻仪,规格为103欧姆/米2~1012欧姆/米 2 ,精确度为±101/2。它主要用于测量表面电阻接地电阻。在测量表面电阻的时候,只要把仪器放在测量物表面,按下红色测试按钮就可以了。随后仪器便会亮起103欧姆/米2 ~1012欧姆/米2范围内相应的灯或缘显示。在测量接地电阻的时候,重复上述过程,同时将接地插头插入连接接地点的插座中即可。
更新时间:
2024-12-13
DT307-ACL-385表面阻抗表 袖珍型表面电阻测试仪 袖珍型表面电阻检测仪
这种小巧袖珍型检测表既可测量表面阻抗
更新时间:
2024-12-13
FT-300II石墨粉电阻率测试仪样品检测
石墨粉电阻率测试仪样品检测,功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治
更新时间:
2024-12-11
FT-300锂电池粉末电阻率测试仪厂家
粉末电阻率测试仪 本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试
更新时间:
2024-12-11
FT-304塑料绝缘材料表面/体积电阻率测试仪现货
塑料绝缘材料表面/体积电阻率测试仪现货,概况:(1)适用标准:gb/t 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》;en 1149-1-1995 《防护服 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》
更新时间:
2024-12-11
FT-330瑞柯系列普通四探针电阻率测试仪
瑞柯系列普通四探针电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准,本机配置232电脑
更新时间:
2024-12-11
FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪的供应商
电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪的供应商根据国标gb11017-89所规定的测试方法和技术要求制造,用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,四端法测试原理,通过测试装置能够满足不同线径之产品测量其屏蔽层电阻率。
更新时间:
2024-12-11
FT-8200A系列双电四探针粉末电阻率测试仪数据管理
系列双电四探针粉末电阻率测试仪数据管理粉体受到压缩直至平稳时,粉体空隙率非常小,压实密度接近于真密度状态,则此时测试出来的粉末电导率为接近于理论值.
更新时间:
2024-12-11
FT-333方阻测试仪
ft-333方阻测试仪 gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》 ft-333方阻测试仪
更新时间:
2024-12-11
四探针电阻率测试仪,方阻仪
四探针电阻率测试仪,方阻仪 显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 四探针电阻率测试仪,方阻仪
更新时间:
2024-12-11
FT-330硅材料测试仪-四探针法测试台
硅材料测试仪-四探针法测试台 探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.硅材料测试仪-四探针法测试台
更新时间:
2024-12-11
FT-336四点探针测试仪技术参数
四点探针测试仪技术参数四探针电阻率测试仪 恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便 ft-336四探针电阻率测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-341双电四探针测试仪,双电四探针电阻率测试仪
ft-341双电四探针测试仪,双电四探针电阻率测试仪 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台 ft-341双电四探针测试仪,双电四探针电阻率测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-343双电四探针电阻率/方阻测试仪
ft-343双电四探针电阻率/方阻测试仪 利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 ft-343双电四探针电阻率/方阻测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-345双电测电四探针电阻率方阻测试仪
ft-345双电测电四探针电阻率方阻测试仪 ft-345双电测电四探针电阻率方阻测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-346双电测四探针电阻率测试仪
ft-346双电测四探针电阻率测试仪 质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示 ft-346双电测四探针电阻率测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-347双电测电四探针电阻率方阻测试仪
ft-347双电测电四探针电阻率方阻测试仪 ft-347双电测电四探针电阻率方阻测试仪,电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
更新时间:
2024-12-11
FT-332四探针测试仪检测范围
四探针测试仪检测范围, 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 四探针测试仪
更新时间:
2024-12-11
粉末高阻测试仪,粉体阻抗分析仪
粉末高阻测试仪,粉体阻抗分析仪 绝缘材料存在的状态有固态规则形状如(长方体,圆柱体等是固有形状)及不规则状态(如粉末状,膏体状,液态流动状),目前对绝缘体材料的测试方法和测量方式基本上是采用三环电极结构测量规则形状体,而不规则状材料的测试较少,本机主要能满足传统的电阻测量外,还可以测试不规则状态(如粉末状,膏体状,液态流动状)材料的电阻和电阻率 粉末高阻测试仪,粉体阻抗分析仪
更新时间:
2024-12-11
FT-8300绝缘粉末电阻率测试仪
绝缘粉末电阻率测试仪, 电路结构采用集成电路及高精度芯片控制系统,满足测试数据的高效采集和数据的读取.自动量程转换 绝缘粉末电阻率测试仪
更新时间:
2024-12-11
FT-351高温四探针电阻率测试系统
ft-351高温四探针电阻率测试系统 ,炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征 usb通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据 ft-351高温四探针电阻率测试系统
更新时间:
2024-12-11
四探针电导率测试仪技术参数
四探针电导率测试仪技术参数, 比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确 四探针电阻率仪
更新时间:
2024-12-11
四探针探头批发,四探针台
四探针探头批,发四探针台 , 采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:pc软件进行数据管理和处理.
更新时间:
2024-12-11
智能型双电测四探针测试仪
智能型双电测四探针测试仪,采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:pc软件进行数据管理和处理.
更新时间:
2024-12-11
LX-9831电压降测试系统
lx-9831电压降测试系统 本系统电压降和接触电阻是车用电线束插接器在强电流电路和弱电流电路下电性能评定指标;在恒定电流状态下,通过测试导线压接和端子接触区域的电压降,还可以获得接触电阻数据;如果通过模拟环境试验测试后的汽车用插接器再进行电压降测试,数据能更真实反映产品本身的特性;适用于科研院所、企业研发、进料检验和质量中心等技术部门提供更加精准和可靠的数据保证 lx-9831电压降测试系统
更新时间:
2024-12-11
电线束插接器压降测试系统批发
电线束插接器压降测试系统批发,通过电流、电压和时间,来检测电线束插接器电压降、接触电阻和温升变化关系,是汽车用插接器的主要电气性能指标,它直接影响汽车各电气设备的信号传输和电气连接,以及电气设备的工作稳定性和可靠性;不良的接触电阻和压降是汽车用插接器工作时产生温升的主要原因。降低接触电阻可有效控制温升,从而提高插接器寿命和性能.
更新时间:
2024-12-11
端子压降测试系统价格
端子压降测试系统,电线束压降测试系统 本系统采用集成电路及高精度芯片控制,通过测量接触电阻、电压降及温升等数据来检测电线束插接器的电性能,恒流源供给更加稳定的输出,大液晶显示屏幕更加直观,各类参数和功能设定通过薄膜面板实现,人性化设计符合人体工学原理,提供usb、232、485通讯接口;可以连接打印机、电脑和其他外接控制单元,配置pc软件可以获得更多过程数据,测试报表处理、存储和数据分析有助于产
更新时间:
2024-12-11
FT-310A安徽瑞柯高导电粉末电阻率测试仪
采用高精度恒流恒压源,自动量程,无需手动调节和设定。大液晶屏幕显示,所有测试数据和设定数据均可显示,当选择经济型手动测量装置匹配时能直观的查看数据;如果在条件许可下可以选择自动测量装置将获得更高精确的重复性数据和消除操作误差带来的不确定性。
更新时间:
2024-12-11
FT-371隔热导电膜四探针电阻率测试仪
隔热导电膜四探针电阻率测试仪,本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,最大可以测试到1010ω方阻值,是目前同行业中能测量到的最大方阻值,此仪器是瑞柯新品,主要用于测超高阻。
更新时间:
2024-12-11
FT-371重庆导电窗膜表面阻抗分析仪厂家
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
更新时间:
2024-12-11
FT-300III通用型粉末电阻率测试仪
通用型粉末电阻率测试仪本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范.
更新时间:
2024-12-11
绝缘材料高温表面和体积电阻率测试仪
绝缘材料高温表面和体积电阻率测试仪适用标准:gb/t 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》;en 1149-1-1995 《防护服 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》;gb/t 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》(与国际标准iec93-1980等效);fz/t 64013-2008 《静电植绒毛绒》.
更新时间:
2024-12-11
FT-352导体材料高温电阻率测试仪
导体材料高温电阻率测试仪广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量.同时显示液晶显示:电阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
更新时间:
2024-12-11
材料低电阻率测试仪
材料低电阻率测试仪满足标准: gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新时间:
2024-12-11
双电测电四探针测试仪
双电测电四探针测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。
更新时间:
2024-12-11
FT-333四探针方阻仪
四探针方阻仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准,本机配置232电脑接口及usb两种接口.
更新时间:
2024-12-11
方块电阻测试仪
方块电阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准.
更新时间:
2024-12-11
FT-336薄膜方阻测试仪
薄膜方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(astm f84)及国家标准设计制造该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 标准
更新时间:
2024-12-11
FT-303绝缘粉末/液体电阻率测试仪测定方法
绝缘粉末/液体电阻率测试仪测定方法,绝缘材料存在的状态有固态规则形状如(长方体,圆柱体等是固有形状)及不规则状态(如粉末状,膏体状,液态流动状),目前对绝缘体材料的测试方法和测量方式基本上是采用三环电极结构测量规则形状体,而不规则状材料的测试较少,本机主要能满足传统的电阻测量外,还可以测试不规则状态。
更新时间:
2024-12-11
FT-300III糖粉粉末电阻率测试仪技术参数
糖粉粉末电阻率测试仪技术参数,功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试
更新时间:
2024-12-11
FT-371河南瑞柯金属化标签四探针测试仪
本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,最大可以测试到1010ω方阻值,是目前同行业中能测量到的最大方阻值,选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度ad芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
更新时间:
2024-12-11
共5463条
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